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紅外熱像儀原理及用途 紅外熱像儀原理及用途 紅外熱成像技術(shù)是一項(xiàng)前途廣闊的高新技術(shù)。比0.78微米長(zhǎng)的電磁波位于可見(jiàn)光光譜紅色以外，稱(chēng)為紅外線(xiàn)或稱(chēng)紅外輻射，是指波長(zhǎng)為0.78~1000微米的電磁波，其中波長(zhǎng)為0.78~2.0微米的部分...發(fā)布時(shí)間：2011-07-22 點(diǎn)擊次數(shù)：1054 次
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MikroTest涂層測(cè)厚儀使用過(guò)程中注意事項(xiàng) MikroTest涂層測(cè)厚儀使用過(guò)程中注意事項(xiàng)推動(dòng)指輪時(shí)，不要觸動(dòng)按鈕；盡量保證測(cè)量點(diǎn)與兩支撐點(diǎn)在同一平面上；在粗糙表面測(cè)量時(shí)，讀數(shù)將偏大。要多次測(cè)量求取平均值；發(fā)布時(shí)間：2011-07-22 點(diǎn)擊次數(shù)：1007 次
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固緯示波器GDS-3000示波器系列 固緯示波器GDS-3000示波器系列產(chǎn)品簡(jiǎn)介:GDS - 3000系列是一個(gè)全新的測(cè)試平臺(tái)，全系列高提供350MHz的頻寬，4個(gè)模擬輸入通道，5GSa / s取樣率和VPO波形顯示技術(shù)。4分割畫(huà)面功能可以達(dá)到同時(shí)獨(dú)立觸發(fā)...發(fā)布時(shí)間：2011-07-22 點(diǎn)擊次數(shù)：1045 次
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微電阻計(jì)應(yīng)用 主要用于測(cè)量電阻的阻值。微電阻計(jì)具有元件測(cè)試分類(lèi)所必需的比較器功能。微電阻計(jì)可手動(dòng)測(cè)試或系統(tǒng)應(yīng)用測(cè)試，可16次/秒快速采樣、溫度補(bǔ)償和自動(dòng)選擇量程，并可根據(jù)不同用途選擇版本。電力設(shè)備的接地引下線(xiàn)與地網(wǎng)的可靠連接是電...發(fā)布時(shí)間：2011-07-20 點(diǎn)擊次數(shù)：1046 次
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日本日置HIOKI 8855存儲(chǔ)記錄儀 日本日置HIOKI8855存儲(chǔ)記下儀介紹HIOKI8855存儲(chǔ)記下儀8個(gè)完全隔離的傳入通道，20MS/s高速采樣，大512MW內(nèi)存長(zhǎng)時(shí)間存儲(chǔ)記下大8個(gè)模擬通道+16個(gè)邏輯通道20MS/s,8個(gè)12bit高速完全隔離的傳入...發(fā)布時(shí)間：2011-07-19 點(diǎn)擊次數(shù)：1309 次
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時(shí)代里氏硬度計(jì)歷程 時(shí)代里氏硬度計(jì)填補(bǔ)了國(guó)內(nèi)便攜式硬度測(cè)試領(lǐng)域的空白，成為中國(guó)里氏硬度測(cè)試史上的里程碑；時(shí)代臺(tái)式（洛氏）硬度儀是目前國(guó)內(nèi)先進(jìn)、功能齊全、執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)嚴(yán)格的檢測(cè)儀器，設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)能滿(mǎn)足特殊工件的測(cè)量；時(shí)代粗糙度儀技術(shù)**，極...發(fā)布時(shí)間：2011-07-19 點(diǎn)擊次數(shù)：1021 次
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超聲波測(cè)厚儀 測(cè)厚儀是一種體型小巧.攜帶方便的測(cè)量?jī)x器,其**的測(cè)量精度和測(cè)量范圍,以及其做工精細(xì),一直被我們視為測(cè)量厚度的選儀器,由于測(cè)厚儀可測(cè)量各種紡織品及橡膠,塑料,金屬箔帶,紙板,木版,皮革，漆涂料的干膜厚度等，且品種繁多，而...發(fā)布時(shí)間：2011-07-17 點(diǎn)擊次數(shù)：1127 次
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數(shù)據(jù)記錄儀LR5000 日置(HIOKI)近日推出一款小巧輕便、設(shè)置簡(jiǎn)單的小型記錄儀—數(shù)據(jù)記錄儀LR5000系列。與前款記錄儀一樣，涵蓋了溫度、濕度、電壓、控制信號(hào)、電流、脈沖等多種用途。 日置推出的新款數(shù)據(jù)記錄儀LR5000特點(diǎn)主...發(fā)布時(shí)間：2011-07-17 點(diǎn)擊次數(shù)：1069 次
